試料調整 試験片加工 試験(金属材料試験) 材料調査業務 設備一覧

材料調査

【主要設備】
 <分析>固体発光分光分析装置、蛍光X線分析装置、誘導結合プラズマ発光分光分析装置(ICP)、酸素・窒素分析装置
 <物性>熱特性/解析装置、電気・磁気特性/電気抵抗(室温、高温)、磁気特性
 <解析装置>デジタル光学顕微鏡、走査型電子顕微鏡―エネルギー分散型X線分析(SEM−EDX)、X線回折装置

材料分析、マクロ・ミクロ観察はもとより、部品の破損、磨耗、腐食などの各種異常発生品の調査を最新鋭の機器で実施し、現象分析・原因推定・考察を行い、その原因を究明します。


【走査型電子顕微鏡】
【デジタル光学顕微鏡】
【マイクロスコープ】
エネルギー分散型X線分析(SEM-EDX)
走査型電子顕微鏡
光学顕微鏡
マイクロスコープ
調査対象物の表面形態を観察。立体的な映像を映し出すとともに、微小部の分析が可能です。
金属組織の観察を行います。
低倍率で広範囲の表面観察を行います。解像度の高い画像が得られます。




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