材料調査
【主要設備】
<分析>固体発光分光分析装置、蛍光X線分析装置、誘導結合プラズマ発光分光分析装置(ICP)、酸素・窒素分析装置
<物性>熱特性/解析装置、電気・磁気特性/電気抵抗(室温、高温)、磁気特性
<解析装置>デジタル光学顕微鏡、走査型電子顕微鏡―エネルギー分散型X線分析(SEM−EDX)、X線回折装置 |
材料分析、マクロ・ミクロ観察はもとより、部品の破損、磨耗、腐食などの各種異常発生品の調査を最新鋭の機器で実施し、現象分析・原因推定・考察を行い、その原因を究明します。
【走査型電子顕微鏡】 |
【デジタル光学顕微鏡】 |
【マイクロスコープ】 |
エネルギー分散型X線分析(SEM-EDX) |
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調査対象物の表面形態を観察。立体的な映像を映し出すとともに、微小部の分析が可能です。 |
金属組織の観察を行います。
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低倍率で広範囲の表面観察を行います。解像度の高い画像が得られます。 |
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